
图1. S-LFP的直接再生策略概念。
严重失效的废弃LFP材料(S-LFP)中存在着大量的Li空位和Fe-Li缺陷,从而使从LFP相到FP相的相变过程不可逆,这也是导致废LFP的锂离子扩散效率缓慢和电化学性能偏低的主要原因,因此,补锂并创造还原环境非常重要。然而,对于这类严重失效的LFP,传统固态烧结法面临修复能力不足,不能实现锂空位和Fe-Li缺陷的完全修复,已无法胜任,如图1所示。针对此,团队提出了一种在固态烧结过程中引入物理限域促进严重损坏LFP结构修复的先进技术。
图2.(a-b)R-LFP和S-LFP的XRD谱图Rietveld细化结果。(c) S-LFP、R-LFP和商用LFP的FTIR光谱。(d) S-LFP和R-LFP的高分辨率Fe 2p和O1s XPS光谱。
X射线衍射(XRD)对比分析,见图2a-b。S-LFP表现出非均质成分(LiFePO4、Li3Fe2(PO4)3、FePO4、Fe2O3、Fe4O3),表明已严重受损。传统固相烧结得到D-LFP粉末的XRD图谱中存在杂质相(FP相)。这说明:传统烧结不能完全补充锂空位,也不能完全恢复晶体结构。相比之下,本研究技术修复再生后的R-LFP,与商用LFP的XRD标准卡匹配良好,表明晶体结构由非均相已转变为均相;R-LFP的主结合能峰迁移到709.58和723.28 eV,分别对应Fe 2p3/2和Fe 2p1/2的Fe(II)相;R-LFP中Fe(III)相的消失与XRD结果一致,表明元素组成和晶体结构已得到了完全恢复。此外,Fe-O键的增强也被观察到,这抑制了R-LFP在循环过程中反位点缺陷的产生。
图3. (a-b) S-LFP 的 SEM 和 TEM 图像。(c)S-LFP 的 HRTEM 图像。(c1-c3)图像为虚线矩形中相应区域的 HRTEM 图像。(d) S-LFP 的晶格间距分析。(e-f)R-LFP 的 SEM 和 TEM 图像。(g)R-LFP 的 HRTEM 图像。(g1-g3)图像为虚线矩形中相应区域的 HRTEM 图像。(h) R-LFP 的晶格间距分析。(i) R-LFP 中 N、P、O、Fe 和 C 的 TEM 图谱。
采用扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)进一步对样品的微观形貌和晶格转变进行分析。如图3c所示,S-LFP的HRTEM图像中,区域I和区域II的晶格间距为0.435 nm,对应于FP的(100)面(图c1和c2),区域III位于S-LFP的内部晶格,晶格间距为0.174 nm,对应于LFP的(222)面(图c3)。在S-LFP中观察到无序区域的存在(图3c),这可能是由于LFP和FP同时存在,导致两相交界处出现无序晶格;HRTEM图像进一步证实了S-LFP中存在Fe(III)和Fe(II)相,这与上述XRD和XPS结果一致。R-LFP从表面到内部的三个随机区域均呈现出明显的晶格条纹和周期性排列,晶格间距0.345 nm对应于LFP的(111)晶面(图g1-g3)。能谱分析(图3i所示)显示,直接再生后的R-LFP中Fe、N、C、O、P元素分布均匀,且元素N在R-LFP颗粒外表面碳层中的分布均匀。
图4. (a-b) R-LFP 和 S-LFP 不同扫描速率下的 CV 曲线。(c) 主峰电流的线性拟合结果曲线。(d-e) S-LFP 和 R-LFP 的 dQ/dV 曲线。(f) S-LFP、R-LFP 和 D-LFP 在不同电流密度下的速率性能。(g) 从 D-LFP 和 R-LFP 的 GITT 图中得出的充放电电压曲线。(h) S-LFP、R-LFP 和 D-LFP 在 2 C 时的循环性能。 (i) S-LFP、R-LFP 和 D-LFP 在 5 C 时的长循环性能。
图4a-c为S-LFP、R-LFP和D-LFP三种材料在半电池2.5 ~ 4.3 V电压范围内电化学性能。由于S-LFP中锂的大量损失,Fe(III)相占主导地位,导致剩余比容量仅为37.16 mAh g-1;D-LFP的放电比容量为98.95 mAh g-1,证实了传统固相烧结方式Li+没有能填补S-LFP中锂离子的空缺。相比之下,R-LFP的比容量达到了162.87 mAh g-1。如图4c所示,R-LFP的斜率比D-LFP和S-LFP更陡,表明Li+扩散系数更高。图4中的恒流间歇滴定技术(GITT)结果进一步证实了这一观点。与R-LFP相比,D-LFP在充放电过程中需要更高的电位来克服Li+在扩散中的阻力。以上结果这表明,物理限域烧结法修复再生LFP的优越性:有助于使Li+完全修复损坏的晶格并重建完整的锂离子扩散通道。
在长循环充放电测试中,R-LFP表现出优异的循环稳定性。在0.5 C循环120次和2 C循环300次后,容量保持率分别为99.3%和99.1%(图4h)。即使在5C的高电流下,R-LFP在1500次循环后仍能保持其容量的88.8%(图4i),远高于D-LFP的容量保留率(仅35.7%)。通过dQ/dV曲线分析了R-LFP阴极的循环稳定性(图4d和e)。在200次循环中,S-LFP的氧化还原峰逐渐增加,同时极化电压降低,说明在循环过程中存在一个电化学修复过程。相比之下,R-LFP在200次循环后仍具有0.07 V的小极化电压。因此,针对结构严重损坏的S-LFP,固相烧结过程引入物理限域效应能促进重新结晶并形成完整的锂离子输运通道,从而实现S-LFP的有效修复。
图5.(a、b、d)R-LFP 非原位 XRD 图谱的演变。(c) 结构转变示意图。(e) S-LFP 和 R-LFP 的原位 EIS 测试电压曲线和 EIS 光谱。(f) S-LFP 和 R-LFP 的拟合结果和 Rct 值。
高温XRD分析证实,在25~750℃的热处理过程中,随着Li+的插入变化,相结构发生了由非均相转变为LFP相的再生(图5a, b, d)。直接再生过程分为两个阶段:第一阶段,锂盐分解和Fe(III)还原:还原剂在高温下使Fe(III)向Fe(II)相变,而锂盐会逐渐分解成氧化锂,锂离子扩散到锂空位中完成锂的补充;第二阶段,晶体结构修复:LFP的元素组成逐渐完善,晶体结构逐渐稳定。当温度升高450℃时,S-LFP由非均相结构转变为LFP相,且FP相的特征峰消失,证实了烧结过程中锂化过程的存在。
值得一提的是,在以前的国际报道中,这一相变过程往往发生在500℃至650℃的温度范围内;而在本研究中,物理限域的引入使第一阶段的起始温度降低到300~450℃,在450℃完成第一阶段的再生过程(FP相的衍射峰消失)。以上表明,物理限域的促进作用降低了再生过程中Li+迁移屏障。
为探究充放电过程中内阻的变化,团队还进行了充放电过程中原位EIS测试,如图5e所示。在充电过程中,S-LFP和R-LFP的电荷转移阻抗(Rct)均有下降,且在4.3 V时达到最小值;这种电阻变化对应于LFP在衰减过程中离子电导率和电子电导率的增加。而在放电过程中,R-LFP表现出稳定且较小的Rct,表明在放电过程中反应界面趋于稳定(见图5f)。