Figure 1: 时间解耦策略与生长模式控制。(a, b) TbOBr的层状晶体结构示意图(P4/nmm空间群)及单层原子排列。(c, d) “时间解耦”CVD策略示意图(c)及相应的温度与气体引入程序(d)。关键点在于将H₂引入时间与TbBr₃蒸发温度同步。(e, f) 低质量通量下“平躺”生长(e)与高质量通量下“站立”生长(f)的示意图及相应的光学显微镜图像。(g-i) “站立”TbOBr在不同衬底(云母、SiO₂/Si、石英)上生长的光学图像,显示其衬底普适性。(j) 通过干法转移至SiO₂/Si衬底上的TbOBr薄片的原子力显微镜图像及高度剖面,显示其表面洁净。
Figure 2: 结构、成分与化学态表征。(a, b) 单晶TbOBr薄片的高分辨透射电镜图像(a)及对应的选区电子衍射图(b),显示清晰的(110)晶面(间距0.274 nm)和四方对称的衍射斑点。(c) 能量色散X射线光谱,显示Tb与Br的原子比接近1:1。(d-f) Tb、O、Br元素的EDS面分布图,显示均匀的元素分布。(g-i) Tb 3d (g)、O 1s (h)、Br 3d (i) 的高分辨率X射线光电子能谱,证实了Tb³⁺、O²⁻和Br⁻的化学态。
Figure 3: 光学性能与稳定性。(a) Tb³⁺离子的能级图及光致发光跃迁(⁵D₄→⁷F_J)示意图。(b) 在390 nm激发下,二维TbOBr的室温光致发光光谱,显示出Tb³⁺的特征发射峰。(c) 543 nm处主峰(⁵D₄→⁷F₅)的高分辨率光谱,显示其半高全宽仅为5.0 meV。(d) TbOBr薄片的共聚焦激光扫描显微发光图像,显示均匀的绿色发光。(e) 不同厚度TbOBr薄片的拉曼光谱。(f) 原始样品、空气中暴露3个月样品及400°C退火10分钟后样品的拉曼光谱对比,显示优异的稳定性。(g-i) 对应上述处理条件下样品的原子力显微镜形貌图及高度剖面,证实无结构退化。
Figure 4: 介电性能表征。(a) 用于C-V测量的金属-绝缘体-金属(MIM)电容器件示意图。(b) 基于C-V测量提取的TbOBr介电常数随厚度的变化。(c) 以TbOBr为顶栅介质的双栅MoS₂场效应晶体管结构示意图。(d) 该晶体管在不同背栅电压(V_bg)下的转移特性曲线(顶栅电压V_tg扫描)。(e) 从转移曲线提取的阈值电压(V_th)随背栅电压(V_bg)的变化,其斜率给出了顶栅与背栅的电容比。(f) 基于双栅晶体管测量提取的TbOBr有效介电常数随厚度的变化。
Figure 5: 稀土基莫尔超晶格的构建与表征。(a) 扭转TbOBr薄片被转移到不同衬底(云母、石英、金、SiO₂)上的光学图像。(b) 扭转TbOBr结构的原子力显微镜图像,清晰显示了上下两层的晶体学取向。(c) 基于四方晶格(a=0.3891 nm)计算的莫尔超晶格周期(d)随扭转角(θ)变化的的理论曲线(红线)及实验观测数据点(黑点)。(d-f) 对应于不同扭转角(1.5°, 37.1°, 44.1°)的TbOBr莫尔超晶格的高分辨透射电镜图像,显示了均匀的方形周期图案(插图为放大图)。(g-i) 对应于(d-f)的选区电子衍射图,显示两套衍射斑点,用于精确确定扭转角。
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